Лаборатория инженерного профиля | Laboratory of an engineering profile | Инженерлік зертханалар

[ru]Задачи ЛИП «ЭМиН»:

– организация и проведение фундаментальных, поисковых и прикладных научных исследований по профилю лаборатории в соответствии с утвержденным планом;

– реализация проектных разработок и договорных работ по тематике ЛИП «ЭМиН»;

– организация экспериментов по внедрению современных управленческих технологий в учебный процесс по результатам научных работ;

– организация и реализация научных исследований в инициативном порядке, а также в соответствии с грантовой поддержкой, бюджетными и внебюджетными договорами.

[/ru]

[kk]

 ИБЗ міндеттері «ЭМЖН»:

– бекітілген жоспарға сәйкес зертхана бейіні бойынша іргелі, іздестіру және қолданбалы ғылыми зерттеулерді ұйымдастыру және жүргізу;

– ИБЗ «ЭМжН» тақырыбы бойынша жобалық әзірлемелерді және шарттық жұмыстарды іске асыру»;

– ғылыми жұмыстардың нәтижелері бойынша оқу процесіне заманауи басқару технологияларын енгізу бойынша эксперименттерді ұйымдастыру;

– ғылыми зерттеулерді бастамашылық тәртіпте, сондай-ақ гранттық қолдаумен, бюджеттік және бюджеттен тыс шарттарға сәйкес ұйымдастыру және іске асыру.

[/kk]

---

---

[ru]

Оборудование ЛИПа 

На создание лаборатории в 2008 году затрачено более 200 млн. тенге бюджетных средств. Университетом передано в фонд лаборатории уникальное оборудование мировых производителей.

1. Электронный просвечивающий микроскоп JEM2100.

Увеличение микроскопа от 50 до 1500000 крат позволяет полностью изучать атомно-кристаллическую структуру материала, включительно морфологию и характеристику кристаллической структуры, характеристики типа и распределения разных дефектов кристаллического строения (границы зерен, дефекты упаковки, дислокации, разные комбинации точечных дефектов), а также проводить химический анализ выделяющихся в сплавах частиц и разных включений (в том числе газовых пузырей, пустот), изучать доменную структуру.

Объекты исследования просвечивающего микроскопа: высокодисперсные порошки, осаждаемые на пленку-подложку после специальной операции, окисные пленки – фольга, пленки металлов, тонкие пленки, получаемые из массивных объектов путем химического утончения, реплики, то есть тонкие пленки, воспроизводящие рельеф поверхности изучаемого объекта.

2. Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JSM 5910.
Позволяет наблюдать топографию поверхности вследствие большой глубины фокуса. Имеется возможность исследования тонких деталей структуры. Можно изучать и получать снимки объемных изображений и конфигураций структуры. Микроскоп также предназначен для изучения субтонкой структуры на уровне кристаллографических плоскостей. Определяет количественный и качественный состав фаз и остаточные напряжения при фазовых превращениях.

3. Дифрактометр рентгеновский общего назначения ДРОН-6.

Предназначен для проведения рентгенодифракционного анализа кристаллических и аморфных материалов в научно-исследовательских, учебных и заводских лабораториях, в линиях технологического контроля.

С помощью рентгенодифракционного анализа определяют и/или оценивают: качественный и количественный фазовый состав; параметры элементарной ячейки; параметры тонкой структуры – величину и распределение областей когерентного рассеяния и микродеформаций, концентрацию деформационных и двойниковых дефектов упаковки; плотность и распределение дислокаций; величину макронапряжений (напряжений I рода); содержание аморфной и кристаллической фазы; текстуру; ориентировку монокристаллов и другие параметры.

4. Анализатор химического состава SPECTROLAB.

Предназначен для определения химического состава сплавов на основе железа, алюминия, меди и цинка с добавлением до 20 легирующих элементов (Cr, V, W, S, P, C, Nb, Mo, Ni, Ti, As и др.). Это настольный оптический эмиссионный спектрометр для анализа металлов и сплавов с возбуждением спектра в искре и/или дуге и полупроводниковыми CCD-детекторами. Оптимальный диапазон длин волн от 175 до 550 нм плюс детекторы для щелочных и щелочноземельных элементов.

5. Оптический микроскоп “LEICA”.

Предназначен для исследования фазового состава и структурных особенностей металлов и сплавов при увеличении от х100 до х1000 раз. Микроскоп оснащен приставкой для определения микротвердости отдельных фаз, а также приставкой для автоматической микрофотосъемки микроструктуры.

Для учебных целей оснащен цветной видеосистемой SONY и телевизионным экраном, на который проецируется изображение с микроскопа.

6. Оптический металлографический микроскоп Olympus.

7. Комплекс рентгеновский измерительный «РИКОР».

Предназначен для измерений угловых положений дифракционных пиков возникающих от воздействия направленного на анализируемый объект рентгеновского излучения. Полученные угловые положения пиков служат основой для определения фазового состава исследуемого вещества.

Область применения – контроль качества процесса производства материалов для микроэлектроники, цементной, химической, горно-обогатительной, фармацевтической промышленности, металлургии.

8. Учебная универсальная крутильно-разрывная машина МИ-40КУ.

Предназначена для испытания образцов на растяжение, сжатие и кручение. Машина используется совместно с IBM – совместимой ПЭВМ и обеспечивает построение графиков зависимости усилия и момента от деформации на дисплее ПЭВМ через стандартный интерфейс RS 232 при растяжении или сжатии образцов силой до 40 кН при скорости нагружения 0,5…60 мм/мин, и кручении с моментом до 200 Нм при скорости нагружения 0,03…6 об/мин.

Машина позволяет автоматически производить следующие измерения: значения линейного перемещения траверсы; значения текущей нагрузки F тек; значения углового перемещения захвата кручения; значение текущего момента М тек.

9. Универсальный измерительный микроскоп УИМ-23 (тип УИМ-200Э).

Предназначается для измерения линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах. В частности, на микроскопе можно измерять всевозможные резьбовые изделия, режущий инструмент, профильные шаблоны и лекала, кулачки, конусы, метчики, резьбонарезные гребенки и др.

10. Отрезной станок Lobotom-3.

Высокоточный отрезной станок, предназначенный для точного бездеформационного отрезания металлов с твердостью от 30 до 2000 HV. Отрезной станок позволяет получить срез, имеющий ровную, минимально деформированную поверхность. Абразивное мокрое отрезание обеспечивает минимум повреждений поверхности, что облегчает и ускоряет дальнейшую подготовку образцов.

11. Высокоточный отрезной станок Accutom-5.

12. Шлифовально-полировальный станок Tegra Pol – Tegra Force фирмы Struers.

Предназначен для высококачественного автоматизированного шлифования и полирования. Станок используется с применением шлифовальных дисков и полировальных сукон на магнитной фиксации MD-System.

Станок позволяет производить материалографическую подготовку материалов с твердостью 30 – 2000 HV.

13. Устройство электролитической пробоподготовки Struers.

14. Планетарная шаровая мельница Retsch PM 100 ,  Германия.

Используется для наиболее требовательных прикладных задач, от измельчения, перемешивания и гомогенизации до коллоидного измельчения и механического легирования мягких, средне-твердых, сырьевых (руда), хрупких, волокнистых материалов.

15. Аналитическая просеивающая машина Retsch AS 200, Германия

Используются для исследований и разработки, контроля качества сырья и готовой продукции, а также в контроле производственной деятельности.  Управляемый электромагнитный привод гарантирует оптимальную адаптацию к каждому веществу. Фракции с узким распределением по размерам частиц могут быть получены даже при очень коротких временах рассева. Имеется аналоговый контроль амплитуды и времени рассева. Размеры сит: 45мкм, 63мкм, 125мкм, 250мкм, 500мкм, 1мм, 2мм, 4мм.

16. Таблеточный пресс  Retsch РР 25,  Германия

Таблеточный пресс с давлением 25 т. предназначен для прессования образцов и позволяет легко и быстро изготавливать прочные таблетки с гладкой поверхностью. Манометр имеет диапазон 0-30 т. с делением 1 т. Пресс подходит для прессования таблеток диаметром 32 и 400 мм и подготовки образцов для рентгенофлуоресцентного анализа.

17. Вибрационная мельница  Retsch MM 400 CryoMill,  Германия

Предназначена для измельчения, гомогенизации и смешивания небольшого количества сырьевых материалов (руда), хрупкой, волокнистой пробы быстро и эффективно за счет трения и удара. Подходит для сухого, мокрого и криогенного измельчения. В зависимости от длительности измельчения и характеристик материала тонкость помола может достигать 1мкм.

18. Установка THERMOSCAN-2, Аналитприбор, Россия

Используется для оценки теплоты фазовых переходов и определения температуры, а также любых других процессов в жидких и твёрдых образцах, связанных с поглощением или выделением тепла.

Области применения:

• анализ образцов сыпучих и твёрдых тел на содержание твёрдых и летучих примесей;
• определение влажности сыпучих тел;
• количественный анализ фракционного состава твёрдых смесей.

Технические характеристики:

• Температурный диапазон измерений: 25÷800 °С
• Точность определения изменения веса образца: 0,02 г.
• Погрешность определения температуры: ±1 °С

19. Портативный Рентгенофлуоресцентный анализатор  Olimpus Delta XRF Innov-X Systems, Inc., США

Портативный XRF анализатор предназначен для идентификации и анализа содержания химических элементов твердых и  порошкообразных образцах металлов, сталей и сплавов, почв, руд и других веществ. Позволяет определять следующие элементы: Cd, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Mg, Al, Si, P, S.

[/ru] [kk]

ИЗ-нің қондырғылары

2008 жылы зертхананы жабдықтау үшін 200 млн. теңге бюджеттік қаржы жұмсалды. Университет зертхана қорына әлем өндірушілерінің айрықша жабдықтарын берді.

Қысқаша сипаттама

JEM2100 электронды жарықтандыратын микроскоп.

Микроскоп 50 ден 1500000 есе үлкейту арқылы материалдың атомды-кристалды құрылымын толық зерттеуге сонымен қатар, кристалды құрылымының морфологиясын және сипатын, кристалды құрылыстың (түйіршік шекарасы, орау ақаулықтары, шоғырлану, нүктелі ақаулықтардың әртүрлі комбинациясы) әртүрлі ақаулықтарының таралуын және сипатты түрін, сонымен бірге, қортпаларда бөлінетін бөлшектер және әртүрлі қоспаларға (оның ішінде газды көпіршіктер, қуыс) химиялық талдау жасауға, доменді құрылымды зерттеуге мүмкіндік береді.

Жарықтандыратын микроскоппен зерттелетін нысандар: арнайы операциядан кейінгі шөгілетін қабыршақты-астарлы жоғары дисперсті ұнтақтар, үлкен нысандарды химиялық жіңішкерту тәсілімен алынған қышқылданған қабыршақтар – фольга, металдар қабыршақтары, жұқа қабыршақтар, зерттелетін нысанның қалыптасатын бетті бедері.

JSM 5910 сканирлейтін электронды микроскоп

JSM 5910 сканирлейтін электронды микроскоп фокус тереңдігін үлкен әсер етуінің бетті типографиясын бақылауға мүмкіндік береді. Бөлшектердің жіңішке құрылымын зерттеуге жағдай жасайды. Құрылымның көлемді бейнесін және конфигурациясының суретін алуға және зерттеуге болады.

Сонымен бірге, микроскопта кристаллографикалық жазықтықт деңгейінде субжұқа құрылымнды зерттеуге болады. Фазалардың санды және сапалы құрамы және фазалық түрлену кезінде қалдықты кернеу анықталады.

ДРОН-6 жалпы қолданысты рентгенді дифрактометр 

ДРОН-6 жалпы қолданысты рентгенді дифрактометр технологиялық бақылау желістерінде, зауыттық және оқу, ғылыми-зерттеу  зертханаларында аморфты және кристалды материалдарға рентгендифракционды талдау жасауға арналған.

Рентгендифракционды  талдау көмегімен анықталады және /не бағаланады: фазаның сандық және сапалық құрамы; элементарлы ұяшық парметрлері; жұқа құрылым параметрлері – когерентті және микродеформацияланған ыдыраудың таралу аумағы және шамасы,деформационды және ораудың қосарлы ақаулықтарының шоғырлануы; дислокацияның тығыздығы және таралуы; мкрокернеу (І түрдегі кернеу) шамасы; аморфты және крситалды фазалар құрамы; текстура; моокристалдар және т,б, параметрлер.

SPECTROLAB химиялық құрамдар анализаторы

SPECTROLAB химиялық құрамдар анализаторы темір, алюминий, мыс және мырыш негізгі 20 дейінгі легірлейтін қоспалы (Cr, V, W, S, P, C, Nb, Mo, Ni, Ti, As және т.б.) элементті қортпалар құрамын анықтайды. Бұл үстел үсіне орнатылған эмиссионды спектрометр, CCD-детекторлы жартылай өткізгішті және ұшқын және/ не доғада спектрлі қоздырғышты металдар мен қортпаларды талдауға арналған.толқын ұзындықтарының оңтайлы диапазоны 175 ден 550 нм дейінгі, сонымен бірге сілтілі және сілтілі-топырақты элементтерге арналған детекторлы.

“LEICA” оптикалық микроскопы

“LEICA” оптикалық микроскопы х100 нан х1000 дейін үлкейту кезінде металдар мен қортпалардың құрылымдық ерекшеліктерін және фазалық құрамын зерттеуге арналған. Микроскоп қалған фазалардың микроқаттылығын анықтауға, сонымен қатар, микроқұрылымның  микрофотоларын автоматты түсіруге арналған құрылғы-тұғырмен жабдықталған. Оқу мақсатына арналған SONY түсті видеожүйемен және микроскоптан бейнелер проекцияланатын телевизионды экранмен жабдықталған.

Olympus оптикалық металлографикалық микроскоп

«РИКОР» рентгенді өлшеу

«РИКОР» рентгенді өлшеу кешені сарапталатын нысанға бағытталған рентгенді сәулелердің әсер етуінен түзілетін дифракционды шыңдардың бұрышты жағдайларын өлшеу үшін қолданылады. Шыңдардың анықталған бұрышты жағдайы зерттелетін заттың фазалы құрамын анықтауға арналған негіз ретінде қолданылады.

Қолданылу аумағы – микроэлектроника, цементі, химиялық, тау-кен-байыту, фармацевті өндіріс, металлургия саласына арналған материалдарды өндіру үрдісінің сапасын тексеру үшін қолданылады.

МИ-40КУ оқу әмбабапты айналмалы-үзу машинасы

МИ-40КУ оқу әмбабапты айналмалы-үзу машинасы үлгілердің созылуын, сығылуын және бұралуын сынауға арналған.

Машина ҚЭЕМ біріккен IBM бірге қолданылады  және жүктелу жылмадығы 0,03…6 айн/мин кезінде айналу моменті 200 Нм дейінгі және жүктелу жылдамдығы 0,5…60 мм/мин кезінде 40 кН дейінгі күшпен үлгінің сығылуы не созылуы кезінде стандартты RS 232 интерфейс арқылы дисплейде деформациялану моментіне және күшті тәуелділікті графиктерді құрастыруды қамтамасыз етеді.

Машинада мынандай өлшеулер автоматы түрде орындалады: траверстердің сызықты қозғалысының мәні; F тек ағымды жүктелу мәні; бұралу қарпуының қозғалу бұрышының мәні; М тек ағымды моментінің мәні.

УИМ-23 (УИМ-200Э түрі) әмбабапты өлшеу микроскопы

УИМ-23 (УИМ-200Э түрі) әмбабапты өлшеу микроскопы тікбұрышты және полярлы координаттарда әртүрлі өнімдердің бұрышты және сызықты өлшемдерін өлшеуге арналған. Оның ішінде, микроскопта кез келген ойықты өнімдерді, кесетін инструменттерді, прфилді шаблондарды және лекалдарды, жұдырықтар, конустар, лақтырғыштар, ойықты кесілген тарақшаларды және т.б.өлшеуге болады.

Lobotom-3 жоғары дәлділікте кесетін станок.

Ол қаттылығы 30 дан 2000 HV дейінгі металдарды деформациялаусыз дәл кесуге арналған. Кесу станогында тегіс, аз деформацияланған бетті алуға болады. Абразивті ылғалды кесу беттің аз бүлінуін қамтамасыз етеді, бұл үлгіні әрі қарай дайындауды жеңілдетеді және жылдамдатады.

Accutom-5 жоғары дәлділікте кесетін станок 

Tegra Pol – Tegra ажарлайтын-жылтырлататын станогы

Struers фирмасының Tegra Pol – Tegra ажарлайтын-жылтырлататын станогы автоматтандырылған жоғары сапалы ажарлау және жылд\тырату үшін қолданылады. Станок ажарлайтын дискіні және MD-System магнитті фиксациялы жылтырататын шүберекті қолданады.

Станок қаттылығы 30 – 2000 HV материалды материалографикалық сынақтан өткізуге дайындауға мүмкіндік береді.

Struers үлгіні электролитті дайындайтын қондырғы 

[/kk] [en]

 Equipment 

More than 200 million tenges of budgetary funds are spent for laboratory creation in 2008. The university contributed to laboratory fund the unique equipment of global manufacturers.

Electronic translucent microscope JEM2100. The increase in a microscope from 50 to 1500000 times allows to study completely nuclear and crystal structure of a material, inclusive morphology and the characteristic of crystal structure, the characteristic of type and distribution of different defects of a crystal structure (border of grains, defects of packing, a dislocation, different combinations of dot defects), and also to carry out the chemical analysis of the particles which were allocated in alloys and different inclusions (including gas bubbles, emptiness), to study domain structure.

Objects of research of a translucent microscope: the high-disperse powders besieged on a slick substrate after special operation, oxide slicks – a foil, slicks of metals, the thin slicks received from massive objects by chemical thinning, a remark, that is the thin slicks reproducing a relief of a surface of studied object.

The scanning (raster) electronic microscope of JSM 5910 allows to observe surface topography owing to a big deep  of focus. There is a possibility of research of thin details of structure. It is possible to study and receive pictures of volume images and structure configurations.

The microscope is also intended for studying of subthin structure at the level of the crystallographic plates. It defines quantitative and qualitative structure of phases and residual tension at phase transformations.

The diffractometer x-ray of general purpose DRON-6 is intended for carrying out the X-ray diffraction analysis of crystal and amorphous materials in research, educational and factory laboratories, in lines of technological control.

By the X-ray diffraction analysis define and/or estimate: qualitative and quantitative phase structure; parameters of an elementary cell; parameters of thin structure – the size and distribution of areas of coherent dispersion and microdeformations, concentration of deformation and twinning defects of packing; density and distribution of dislocations; size of macrotension (tension of the I sort); maintenance of an amorphous and crystal phase; texture; orientation of monocrystals and other parameters.

The analyzer of a chemical composition of  SPECTROLAB is intended for definition of a chemical composition of alloys on the basis of iron, aluminum, copper and zinc with addition to 20 alloying elements (Cr, V, W, S, P, C, Nb, Mo, Ni, Ti, As, etc.). It is a desktop optical issue spectrometer for the analysis of metals and alloys with range excitement in a spark and/or an arch and semiconductor CCD detectors. Optimum range of lengths of waves from 175 to 550 nanometers plus detectors for alkaline and alkaline-land elements.

The optical microscope  «LEICA». The Optical microscope «LEICA» is intended for research of phase structure and structural features of metals and alloys at increase from х100 to х1000 times. The microscope is equipped with a prefix for determination of microhardness of separate phases, and also a prefix for automatic microphotographing of a microstructure.

For the educational purposes it is equipped with a color videosystem of SONY and the television screen on which the image from a microscope is projected.

Optical metalgraphic microscope of  Olympus

The complex x-ray measuring «RIKOR» is intended for measurements of angular provisions of diffraction peaks arising from influence of the x-ray radiation directed on analyzed object. The received angular provisions of peaks form a basis for definition of phase structure of studied substance.

Scope – quality control of process of production of materials for microelectronics, cement, chemical, mining and processing, pharmaceutical industry, metallurgy.

The educational universal tortional and explosive MI-40KU car is intended for test of samples for stretching, compression and torsion. The car is used together with IBM – compatible and provides creation of schedules of dependence of effort and the moment from deformation on the display via the standard RS 232 interface at stretching or compression of samples with a force up to 40 kN at a speed of loading of 0,5 … 60 mm/min., and torsion with the moment to 200 Nanometers at a speed of loading of 0,03 … 6 rpm.

The car allows to make the following measurements automatically: values of linear movement traverses; values of the current loading of F current; values of angular movement of capture of torsion; value of a present situation of M current.

The universal measuring microscope of UIM-23 (UIM-200E type) intends for measurement of the linear and angular sizes of various products in rectangular and polar coordinates. In particular, on a microscope it is possible to measure the various carving products, cutting tool, profile templates and curves, cones, taps, thread-cutting combs, etc.

The detachable Lobotom-3 machine – the high-precision detachable machine intended for exact cutting of metals without deformation with a hardness from 30 to 2000 HV. The detachable machine allows to receive the cut having an equal, minimum deformed surface. Abrasive wet cutting provides a minimum of damages of a surface that facilitates and accelerates further preparation of samples.

High-precision detachable machine Accutom-5

The grinding and polishing Tegra Pol machine – Tegra Force of Struers firm is intended for the high-quality automated grinding and polishing. The machine is used with application of grinding disks and polishing cloth on magnetic fixing of MD System.

The machine allows to make  material graphic preparation of materials with a hardness of 30 – 2000 HV.

Device of electrolytic sample preparation Struers 

[/en]